- Маркировка: SN74ABT8952DWR
- Описание: IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
- Производитель: Texas Instruments
-
Даташит: SN74ABT8952DWR
- Срок поставки: 5-10 дней
- Склад: 634 шт.
Параметры:
| Серия | |
| Производитель | Texas Instruments |
| Logic Type | Scan Test Device with Registered Bus Transceiver |
| Supply Voltage | 4.5 V ~ 5.5 V |
| Number of Bits | 8 |
| Рабочая температура | -40°C ~ 85°C |
| Тип монтажа | Surface Mount |
| Исполнение / Корпус | 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Упаковка | Cut Tape (CT) |
| Supplier Device Package | 28-SOIC |
| Количество | Цена | |
|---|---|---|
| 1 | 619.88 | |
| 10 | 557.55 | |
| 25 | 507.08 | |
| 100 | 459.02 | |
| 250 | 420.56 | |
| 500 | 384.52 |
SN74ABT8952DWR
2 500 000,11 
Texas InstrumentsКол-во: 500 000 шт.
Цена за 1 шт: 5
Товары, которые пользователи смотрели недавно
-
C0603X7R1C102M (TDK Corporation)
CAP CER 1000PF 16V 20% X7R 0201 от 0.25 руб. -
DRA74-470-R (Cooper Bussmann)
INDUCTOR HI TEMP 47UH 1.14A SMD от 61.05 руб. -
CA3106F10SL-3SB15 (ITT Cannon)
CONN PLUG 3POS INLINE W/SKTS от 3304.71 руб. -
74AHC573BQ,115 (NXP Semiconductors)
IC TRANSP LATCH OCT D DHVQFN20 от 10.41 руб. -
LP324MT/NOPB (National Semiconductor)
IC OP AMP QUAD MICROPWR 14-TSSOP от 21.5 руб.
